使用RETSCH筛分仪能够在20 微米到63 毫米的颗粒粒径范围内以干筛或是湿筛的方式进行颗粒粒径分析。点击仪器型号,自动进入详细信息页面。
RETSCH Technology为您提供多种光学测量设备,可以对在1 纳米到30 毫米的粒径范围内的颗粒样品进行物理定性测量(粒型和粒径测量)。
进一步的详细咨询,请您联系我们在您当地的代理商。
宣传册
链接 粉碎设备 筛分设备 辅助设备
发行刊物 专业报道 "样品"